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當前位置:首頁 產品中心 太赫茲時域光譜系統級產品 智能化太赫茲無損檢測機器人

智能化太赫茲無損檢測機器人——智能化太赫茲無損檢測機器人

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    智能化太赫茲無損檢測機器人

博太赫茲信息科技(武漢)有限公司

公司地址:楊浦區貴陽路398號文通國際16層
武漢工廠:東湖高新區光谷科技港1幢A座7層

聯系電話:

技術支持:info@b-THz.com

公司網址:www.baiji.net.cn

微信公眾號:博太赫茲

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智能化太赫茲無損檢測機器人

可選BT-FTS5000、BT-FTS-FC或BT-TCU系列

測厚精度:A級:±(0.5 μm + 1%H) 檢測速率:10~2000點/秒 最小可識別缺陷:0.5 mm(水平方位)、10 μm(深度方向,和材料相關) 測厚深度:幾個厘米(與材料特性相關) 工作距離:默認8 cm(探頭與樣品表面間距) 探頭規格:重量0.8 kg;帶觸摸顯示屏 機械臂相關參數:臂展范圍可根據檢測需求選配 智能化檢測能力 自動識別目標面型、自動規劃掃描路徑、自動缺陷識別等

測厚精度:A級:±(0.5 μm + 1%H) 檢測速率:10~2000點/秒 最小可識別缺陷:0.5 mm(水平方位)、10 μm(深度方向,和材料相關) 測厚深度:幾個厘米(與材料特性相關) 工作距離:默認8 cm(探頭與樣品表面間距) 探頭規格:重量0.8 kg;帶觸摸顯示屏 機械臂相關參數:臂展范圍可根據檢測需求選配 智能化檢測能力 自動識別目標面型、自動規劃掃描路徑、自動缺陷識別等
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光纖耦合臺式太赫茲光譜儀

BT-FTS3500

1.光譜寬度:0.1 – 3.0 THz 2.光譜分辨率:2.5 GHz 3.成像分辨率:≤0.5 mm(水平方向)、~10 μm(深度方向) 4.動態范圍:≥ 75 dB 5.光譜采樣速率:16Hz@53ps、9Hz@133ps、5Hz@267ps、3.6Hz@400ps 6.延時掃描范圍:400 ps 7.測量方式:支持透射、反射、ATR、偏振測量;支持自動角度掃描、掃描成像(XY掃描、圓柱掃描、機械臂6自由度掃描等) 8.配套軟件功能(BT-TSA):對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理;FFT變換生成頻域波形、吸收光譜;支持對吸收光譜進行基線濾波;支持光譜數據庫和光譜自動識別功能;支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量;支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能(選配);提供軟件二次開發接口

1.光譜寬度:0.1 – 3.0 THz 2.光譜分辨率:2.5 GHz 3.成像分辨率:≤0.5 mm(水平方向)、~10 μm(深度方向) 4.動態范圍:≥ 75 dB 5.光譜采樣速率:16Hz@53ps、9Hz@133ps、5Hz@267ps、3.6Hz@400ps 6.延時掃描范圍:400 ps 7.測量方式:支持透射、反射、ATR、偏振測量;支持自動角度掃描、掃描成像(XY掃描、圓柱掃描、機械臂6自由度掃描等) 8.配套軟件功能(BT-TSA):對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理;FFT變換生成頻域波形、吸收光譜;支持對吸收光譜進行基線濾波;支持光譜數據庫和光譜自動識別功能;支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量;支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能(選配);提供軟件二次開發接口
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光纖耦合臺式太赫茲光譜儀—高速率

BT-FTS3500-H

1.光譜寬度:0.1 – 3.0 THz 2.光譜分辨率:11GHz 3.成像分辨率:≤0.5 mm(水平方向)、~10 μm(深度方向) 4.動態范圍:≥ 70 dB 5.光譜采樣速率:500Hz@110ps 6.延時掃描范圍:110 ps 7.測量方式:支持透射、反射、ATR、偏振測量;支持自動角度掃描、掃描成像(XY掃描、圓柱掃描、機械臂6自由度掃描等) 8.配套軟件功能(BT-TSA):對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理;FFT變換生成頻域波形、吸收光譜;支持對吸收光譜進行基線濾波;支持光譜數據庫和光譜自動識別功能;支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量;支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能(選配);提供軟件二次開發接口

1.光譜寬度:0.1 – 3.0 THz 2.光譜分辨率:11GHz 3.成像分辨率:≤0.5 mm(水平方向)、~10 μm(深度方向) 4.動態范圍:≥ 70 dB 5.光譜采樣速率:500Hz@110ps 6.延時掃描范圍:110 ps 7.測量方式:支持透射、反射、ATR、偏振測量;支持自動角度掃描、掃描成像(XY掃描、圓柱掃描、機械臂6自由度掃描等) 8.配套軟件功能(BT-TSA):對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理;FFT變換生成頻域波形、吸收光譜;支持對吸收光譜進行基線濾波;支持光譜數據庫和光譜自動識別功能;支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量;支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能(選配);提供軟件二次開發接口
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光纖耦合臺式太赫茲光譜儀—寬譜寬

BT-FTS5500

1.光譜寬度:0.1 – 5.0 THz 2.光譜分辨率:2.5 GHz 3.成像分辨率:≤0.5 mm(水平方向)、~10 μm(深度方向) 4.動態范圍:≥ 90 dB 5.光譜采樣速率:16Hz@53ps、9Hz@133ps、5Hz@267ps、3.6Hz@400ps 6.延時掃描范圍:400 ps(標準); 800/1600/3200 ps(選配) 7.測量方式:支持透射、反射、ATR、偏振測量;支持自動角度掃描、掃描成像(XY掃描、圓柱掃描、機械臂6自由度掃描等) 8.配套軟件功能(BT-TSA):對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理;FFT變換生成頻域波形、吸收光譜;支持對吸收光譜進行基線濾波;支持光譜數據庫和光譜自動識別功能;支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量;支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能(選配);提供軟件二次開發接口

1.光譜寬度:0.1 – 5.0 THz 2.光譜分辨率:2.5 GHz 3.成像分辨率:≤0.5 mm(水平方向)、~10 μm(深度方向) 4.動態范圍:≥ 90 dB 5.光譜采樣速率:16Hz@53ps、9Hz@133ps、5Hz@267ps、3.6Hz@400ps 6.延時掃描范圍:400 ps(標準); 800/1600/3200 ps(選配) 7.測量方式:支持透射、反射、ATR、偏振測量;支持自動角度掃描、掃描成像(XY掃描、圓柱掃描、機械臂6自由度掃描等) 8.配套軟件功能(BT-TSA):對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理;FFT變換生成頻域波形、吸收光譜;支持對吸收光譜進行基線濾波;支持光譜數據庫和光譜自動識別功能;支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量;支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能(選配);提供軟件二次開發接口
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光纖耦合臺式太赫茲光譜儀

BT-FTS5500-H

1.光譜寬度:0.1 – 5.0 THz 2.光譜分辨率:≤ 1.2 GHz 3.成像分辨率:≤0.5 mm(水平方向)、~10 μm(深度方向) 4.動態范圍:≥ 80 dB 5.光譜采樣速率:50Hz@16ps、33Hz@53ps、20Hz@133ps、14Hz@267ps、9Hz@1067ps、3.6Hz@1600ps 6.延時掃描范圍:400 ps(標準); 800/1600/3200 ps(選配) 7.測量方式:支持透射、反射、ATR、偏振測量;支持自動角度掃描、掃描成像(XY掃描、圓柱掃描、機械臂6自由度掃描等) 8.配套軟件功能(BT-TSA):對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理;FFT變換生成頻域波形、吸收光譜;支持對吸收光譜進行基線濾波;支持光譜數據庫和光譜自動識別功能;支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量;支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能(選配);提供軟件二次開發接口

1.光譜寬度:0.1 – 5.0 THz 2.光譜分辨率:≤ 1.2 GHz 3.成像分辨率:≤0.5 mm(水平方向)、~10 μm(深度方向) 4.動態范圍:≥ 80 dB 5.光譜采樣速率:50Hz@16ps、33Hz@53ps、20Hz@133ps、14Hz@267ps、9Hz@1067ps、3.6Hz@1600ps 6.延時掃描范圍:400 ps(標準); 800/1600/3200 ps(選配) 7.測量方式:支持透射、反射、ATR、偏振測量;支持自動角度掃描、掃描成像(XY掃描、圓柱掃描、機械臂6自由度掃描等) 8.配套軟件功能(BT-TSA):對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理;FFT變換生成頻域波形、吸收光譜;支持對吸收光譜進行基線濾波;支持光譜數據庫和光譜自動識別功能;支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量;支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能(選配);提供軟件二次開發接口
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光纖耦合臺式太赫茲光譜儀

BT-FTNS2000

1.光譜寬度:0.1 – 2 THz 2.光譜分辨率:2.5 GHz 3.成像分辨率:≤20 μm(近場成像) 4.動態范圍:≥ 50 dB 5.光譜采樣速率:16Hz@53ps、9Hz@133ps、5Hz@267ps、3.6Hz@400ps 6.延時掃描范圍:400 ps(標準); 800/1600/3200 ps(選配) 7.測量方式:基于光電導微探針的太赫茲近場成像 8.配套軟件功能(BT-TSA):對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理;FFT變換生成頻域波形、吸收光譜;支持對吸收光譜進行基線濾波;支持光譜數據庫和光譜自動識別功能;支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量;支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能(選配);提供軟件二次開發接口

1.光譜寬度:0.1 – 2 THz 2.光譜分辨率:2.5 GHz 3.成像分辨率:≤20 μm(近場成像) 4.動態范圍:≥ 50 dB 5.光譜采樣速率:16Hz@53ps、9Hz@133ps、5Hz@267ps、3.6Hz@400ps 6.延時掃描范圍:400 ps(標準); 800/1600/3200 ps(選配) 7.測量方式:基于光電導微探針的太赫茲近場成像 8.配套軟件功能(BT-TSA):對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理;FFT變換生成頻域波形、吸收光譜;支持對吸收光譜進行基線濾波;支持光譜數據庫和光譜自動識別功能;支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量;支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能(選配);提供軟件二次開發接口
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光纖耦合臺式太赫茲光譜儀

BT-FTNS2000-H

1.光譜寬度:0.1 – 2 THz 2.光譜分辨率:≤ 1.2 GHz 3.成像分辨率:≤20 μm(近場成像) 4.動態范圍:≥ 50 dB 5.光譜采樣速率:50Hz@16ps、33Hz@53ps、20Hz@133ps、14Hz@267ps、9Hz@1067ps、3.6Hz@1600ps 6.延時掃描范圍:400 ps(標準); 800/1600/3200 ps(選配) 7.測量方式:基于光電導微探針的太赫茲近場成像 8.配套軟件功能(BT-TSA):對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理;FFT變換生成頻域波形、吸收光譜;支持對吸收光譜進行基線濾波;支持光譜數據庫和光譜自動識別功能;支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量;支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能(選配);提供軟件二次開發接口

1.光譜寬度:0.1 – 2 THz 2.光譜分辨率:≤ 1.2 GHz 3.成像分辨率:≤20 μm(近場成像) 4.動態范圍:≥ 50 dB 5.光譜采樣速率:50Hz@16ps、33Hz@53ps、20Hz@133ps、14Hz@267ps、9Hz@1067ps、3.6Hz@1600ps 6.延時掃描范圍:400 ps(標準); 800/1600/3200 ps(選配) 7.測量方式:基于光電導微探針的太赫茲近場成像 8.配套軟件功能(BT-TSA):對TDS系統采集的到太赫茲時域波形進行平均、窗口濾波處理;FFT變換生成頻域波形、吸收光譜;支持對吸收光譜進行基線濾波;支持光譜數據庫和光譜自動識別功能;支持不少于三層的厚度解析功能、支持材料介電常數測量;支持基于飛行時間的層析成像和THz-CT成像功能(選配);提供軟件二次開發接口
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